Artec Ray II適合用於掃描大型物件，如飛機、建築等，內置高端3D雷射技術，能協助快速且精準地完成大型物件的3D掃描。
Artec Ray II遠距雷射3D掃描器輕盈小巧且用戶友好，只需將Ray II放在欲掃描物件前的三腳架上，按下按鈕即可輕鬆量測完成，並透過移動三腳架，輕鬆在不同角度完成3D掃描工作。
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Artec Ray II遠距3D掃描器掃描速度快又準確，內置高端3D雷射技術，並擁有超大廣角，掃描距離可達130米之遠，能迅速精準地完成大型物件計量級精度的捕獲，適合掃描如風力發電機、船用螺旋槳、飛機與建築等大型物件，可應對逆向工程、檢測、紀錄案發現場或對民用建設進行長期評估等。
Ray II可生成達亞毫米級測距精度的一流掃描品質，測角精度同樣首屈一指，其擷取的資料與其他遠距雷射掃描器相比，明顯乾淨許多，噪點水準降到最低，極大提高後期處理速度，省去諸多麻煩。
如果設備沒有校正到位，掃描器會掃描周圍環境自動校正，或提示需進一步動作或提示需进一步操作。
已完成合規檢驗，讓您放心掃描
掃描器已通過嚴格測試，符合11項歐洲安全標準
Ray II擁有3600萬像素的三攝影鏡頭系統，能探測出表面極小的不規則特徵，且HDR紋理十分出色。
遠距3D掃描器Ray II廣闊的360°- 300°視野，讓您能靈活捕獲0.5-130公尺範圍內的物件，精度高，品質卓越
需要在不便到達的地方或危險的高度掃描大型物件時，您可以通過Artec Remote應用程序輕鬆實現遠程操控。
特徵追蹤和高級算法幫助您實時追蹤掃描器的運作，實現直觀的3D空間導航，例如Ray II的視覺慣性系統(VIS)、高度計、指南針和全球導航衛星系統。
Ray II可自動智能移除進出場景的移動物體，專注捕獲您需要的數據。
3D雷射掃描器Ray II由兩塊熱插拔電池供電，另兩塊電池處於待機狀態，隨時支援8小時掃描。需要掃描更久時，亦可邊掃描邊充電，電池組可無縫銜接。
Ray II的防水防塵功能可防止顆粒或濕氣進入設備，保護您的掃描器，讓掃描數據更確實。
和動力強勁的無線掃描設備Artec Leo可完美搭配，快速捕獲大型甚至超大型物件，精度高，覆蓋面廣。
兩款智能無線掃描器組合－Artec Ray II的範圍和速度是合掃描完整場景和大型物件，手持式掃描器Artec Leo是合掃描特定區域和角度。
遠距Ray II可集成至其他所有Artec 3D掃描器
上傳至Artec Studio，精準定位掃描，並擬合至CAD，隨後導出至其他CAD軟體。
利用Ray II高達200萬點/秒的強大捕獲速率，工程師可以簡化飛機檢驗、設計、開發、測試流程。
短短幾分鐘即可捕獲機械外型和不規則表面，還能識別難以發現的缺陷，Ray II能生成高解析度點雲，可用於檢驗，碰撞測試、設計優化等工序。
Ray II掃描器是製作數位孿生的理想之選，可達工業級精度、速度，在整個產品週期輕鬆捕獲表面數據。
調查人員可快速紀錄完整案發現場和證據，無線便攜的Ray II開啟刑偵調查新時代。
製造商和客戶能毫不費力地檢測出缺陷與不規則，加快生產過程，同時確保高產品控制水平。
Ray II配合Artec Studio掃描至CAD功能，計量級精度無可比擬，細節豐富的高品質掃描讓逆向工程速度更快。
便攜式Ray II助力設計師、工程師優化CAD項目，簡化大型物件和設備的設計與原型設計流程。
借助Ray II，文化與遺產保護者可用數位化的方式來保護無價的遺跡和文物，還能定期檢查，將掃描製作成令人驚豔的3D模型，用於虛擬展覽。
科研、教育工作者將得益於快速易用的Ray II，3D掃描極致清晰，帶有鮮活的HDR紋理，能為不同學科領域帶來發現與新知。
Ray II將建設檢驗和設計工作提升至全新高度，具高水準的掃描精度和速度。
考古
Ray II的創新技術，能讓考古學家輕鬆完成可直接使用的3D考古記載，用數位化方式保護文物與化石，並進行細緻的遺址分析。
Artec Studio 16 軟體實力再升級
備受行業讚譽、3D掃描與資料處理的專業軟體
主要特色介紹
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高精度
無論是選擇方便的自動模式，還是想用可自行靈活控制的手動模式， |
質檢流程更省時
Artec Studio 內直接完成快速測量、網格到 CAD 分析。完美相容Geomagic Control X， |
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掃描至CAD
基元擬合至 3D模型，並精準定位，加快工程速度。將STEP檔直接匯出 |
色彩呈現稱心如意
Artec Studio 一系列 CGI 工具包括全彩3D掃描資料、攝影測量法紋理貼圖、 |
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HD模式
Eva 和 Leo 使用者可透過 HD模式掃描，讓 Artec Studio 的 AI 神經網路 |
創建並處理大型資料集
幻想擁有一款強大軟體能處理多達5億個多邊形的資料集？Artec Studio 完美適合 |
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簡單易學
Artec Studio 設計十分人性化，簡單易學，操作簡單，讓您專注工作免受 |
相容 SOLIDWORKS
Artec Studio 是知名 CAD軟體官方認可的合作產品，一鍵即可將掃描以及 |
每年更新
Artec Studio每年更新，您的掃描器也會越發強大，實現更多可能，功能升級讓您猶如每年都在使用全新掃描器，
例如大幅縮減掃描時間，HD模式讓Eva或Leo掃描器解析度提升一倍等出色表現。
相容 Control X
Control X 在後臺運行時，選擇需要檢測的物件，讓 Artec Studio 為您定制報告。
質檢任務最重要的報告即可自動生成。
攝影測量 + 掃描資料 = 完美 CGI
創建準確高清的 3D模型，可直接用於 CGI、VR/AR、動畫。
在 Artec Studio 中，您可以合併掃描資料和攝影測量結果，同時收穫高品質紋理和精准幾何。
Artec Studio 16 配備完整全功能的繁體中文界面，使您可以更加方便地操作3D模型，
更詳細功能介紹如下 ：
1. 導入與檢測STEP、IGES、X_T等CAD模型，輕鬆直接與網格檔進行色階偏差比對，並可標註單點偏差注釋。
2. 可創建CAD幾何特徵(如圓柱、平面等)，並可依此對齊至世界座標做精確的定位，或是將其導出至第三方軟體。
3. 可依據所創建的CAD特徵平面來進行截斷面，並且Artec Studio 16截斷面時運算速度更加提升。
4. 紋理背景顏色抑制功能可降低物件擺放的桌面或是轉盤上的紋理，渲染至物件底部邊緣，導致紋理貼附錯誤的情況。
5. Artec studio 16 可將任何的設備或是任何的軟體，所取得的物件紋理資料，貼附在其它的掃描設備取得的無紋理網格檔上。
6. Artec Studio16 基於AI神經網路的HD模式為Eva和Leo掃描使用者帶來驚豔的高解析度掃描，智能噪點過濾功能讓數據更乾淨、處理更快速，輕鬆捕獲難掃區域，包括凹面幾何，還能清晰還原所有薄邊。
7. 操作步驟可隨時撤銷 / 重做
8. 先進的3D點雲演算法 ， 包括 : 孔填充 、 網格簡化 、 雜點過濾 、 邊界順滑等等
9. 完整的3D編輯工具 ( 擦除器 、 順滑筆刷 、 座標轉換 )
10. 十三種語言界面 ： 繁體中文 、 簡體中文 、 捷克語 、 英語 、 法語 、
德語 、 意大利語 、 日語 、波蘭語 、 俄語、韓語、西班牙語和土耳其語
11. 點雲資料貼附彩色紋理的後製工作可一鍵自動完成
12. ARTEC STUDIO 可分析物體表面 ， 自動調整掃描儀敏感度 ， 易於捕捉難度極高的表面 ， 如頭髮或反光 、 黑色的物體
13. ARTEC STUDIO 可為掃描資料選擇最優化3D演算法 ， 建構高精度3D模型
14. 智慧基底移除功能可自動移除物件下方不必要之數據
15. 全新3D雷達模式 ， 及時以綠色呈現3D數據 ， 提示您目前掃描儀是否處於最佳距離位置
16. 可根據需要選擇輸出3D格式 ： OBJ 、 PLY 、 WRL 、 STL 、 AOP 、 ASC 、 PTX 、 E57 、 XYZRGB
製作成的3D模型可以適用於各種3D應用軟體
